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    題名: 考量夾具誤差之2x-thru校正法研發;Development of 2x-Thru Calibration Algorithms Considering the Fixture-Mismatch Effect
    作者: 周求致
    貢獻者: 國立中央大學電機工程學系
    關鍵詞: 散射參數量測;校正技術;2x-thru校正法;去嵌入;夾具誤差;時域反射儀;S parameter measurement;calibration technique;2x-thru calibration;de-embedding;fixture mismatch;time-domain reflectometry
    日期: 2023-07-17
    上傳時間: 2023-07-18 14:36:02 (UTC+8)
    出版者: 國家科學及技術委員會
    摘要: 2x-thru校正法,由於能以較少的量測便完成校正,故廣為業界採用。本團隊於111年度的計畫,已分析並驗證2x-thru校正之參考阻抗特性。於112年度,我們將致力於開發考量夾具偏差效應之2x-thru校正演算法。由於相關理論在文獻中鮮少揭露,我們自行提出了幾個不同層次的演算法,並預計以多個模擬及量測結果,進行準確度及重要性的分析。
    關聯: 財團法人國家實驗研究院科技政策研究與資訊中心
    顯示於類別:[電機工程學系] 研究計畫

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