English
|
正體中文
| 简体中文 |
全文笔数/总笔数 : 83776/83776 (100%)
造访人次 : 61013888 在线人数 : 484
RC Version 7.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by
NTU Library IR team.
搜寻范围
All of NCUIR
地球科學學院
客家學院
工學院
文學院
理學院
生醫理工學院
研究中心
管理學院
總教學中心委員會
行政單位
資訊電機學院
Tips:
please add "double quotation mark" for query phrases to get precise results
please goto advance search for comprehansive author search
Adv. Search
Home
‧
Login
‧
Upload
‧
Help
‧
About
‧
Administer
NCU Institutional Repository
>
作者相关文件
Loading...
Category
Loading community tree, please wait....
Year
Loading year class tree, please wait....
Items for Author "Li,Jin-Fu"
Return to Browse by Author
Showing 7 items.
Collection
Date
Title
Authors
Bitstream
[電機工程研究所] 期刊論文
2008
A built-in redundancy-analysis scheme for random access memories with two-level redundancy
Chang,Da-Ming
;
Li,Jin-Fu
;
Huang,Yu-Jen
[電機工程研究所] 期刊論文
2008
A Multi-Code Compression Scheme for Test Time Reduction of System-on-Chip Designs
Shieh,Hong-Ming
;
Li,Jin-Fu
[電機工程研究所] 期刊論文
2007
An efficient diagnosis scheme for RAMs with simple functional faults
Li,Jin-Fu
;
Huang,Chao-Da
[電機工程研究所] 期刊論文
2007
ProTaR: An infrastructure IP for repairing RAMs in system-on-chips
Huang,Chao-Da
;
Li,Jin-Fu
;
Tseng,Tsu-Wei
[電機工程研究所] 期刊論文
2007
Raisin: Redundancy analysis algorithm simulation
Huang,Rei-Fu
;
Li,Jin-Fu
;
Yeh,Jen-Chieh
;
Wu,Cheng-Wen
[電機工程研究所] 期刊論文
2007
Testing ternary content addressable memories with comparison faults using march-like tests
Li,Jin-Fu
[電機工程研究所] 期刊論文
2007
Transparent-test methodologies for random access memories without/with ECC
Li,Jin-Fu
::: Copyright National Central University. | 國立中央大學圖書館版權所有 |
收藏本站
|
設為首頁
| 最佳瀏覽畫面: 1024*768 | 建站日期:8-24-2009 :::
DSpace Software
Copyright © 2002-2004
MIT
&
Hewlett-Packard
/
Enhanced by
NTU Library IR team
Copyright ©
-
隱私權政策聲明