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    題名: CRITICAL TIME OF THE LOGNORMAL-DISTRIBUTION
    作者: CHANG,DS
    貢獻者: 企業管理研究所
    日期: 1994
    上傳時間: 2010-06-29 20:33:22 (UTC+8)
    出版者: 中央大學
    摘要: The critical time is the time point as the failure rate starts to decrease and also as the mean residual lifetime starts to increase1. The estimated critical time is useful for determining the duration of a burn-in process. The method for estimating the critical time of the failure rate for lognormal lifetime distribution is discussed. A single time censored data is used as a example for illustration.
    關聯: MICROELECTRONICS AND RELIABILITY
    顯示於類別:[企業管理研究所] 期刊論文

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