A multilayer data copy test data com pression scheme for reducing shifting-in power for multiple scan design

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題名:	A multilayer data copy test data com pression scheme for reducing shifting-in power for multiple scan design
作者:	Lin,Shih-Ping;Lee,Chung-Len;Chen,Jwu-E;Chen,Ji-Jan;Luo,Kun-Lun;Wu,Wen-Ching
貢獻者:	電機工程研究所
關鍵詞:	TEST-DATA-COMPRESSION;A-CHIP TEST
日期:	2007
上傳時間:	2010-07-06 18:15:21 (UTC+8)
出版者:	中央大學
摘要:	The random-like filling strategy pursuing high compression for today's popular test compression schemes introduces large test power. To achieve high compression in conjunction with reducing test power for multiple-scan-chain designs is even harder and ver
關聯:	IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS
顯示於類別:	[電機工程研究所] 期刊論文

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