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    題名: RIE gate-recessed (Al0.3Ga0.7)(0.5)In0.5P/InGaAs double doped-channel FETs using CHF3+BCl3 mixing plasma
    作者: Yang,SC;Chiu,HC;Chien,FT;Chan,YJ;Kuo,JM
    貢獻者: 電機工程研究所
    關鍵詞: DESIGN;HEMTS
    日期: 2001
    上傳時間: 2010-07-06 18:34:39 (UTC+8)
    出版者: 中央大學
    摘要: BCl3+ CHF3 gas mixture for reactive ion etching process was used to the gate-recess of fabricating (Al0.3Ga0.7)(0.5)In0.5P quaternary heterostructure double doped-channel FET's (D-DCFET), where a high uniformity of V-th was achieved. With the merits of th
    關聯: IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
    顯示於類別:[電機工程研究所] 期刊論文

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