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    題名: Reactive-ion-etching (AlxGa1-x)(0.5)In0.5P quaternary compounds using chlorine and fluorine mixing plasma
    作者: Yang,SC;Chan,YJ;Chang,KH;Lin,KC
    貢獻者: 電機工程研究所
    日期: 2000
    上傳時間: 2010-07-06 18:36:28 (UTC+8)
    出版者: 中央大學
    摘要: Both BCl3+CHF3 and BCl3+CF4 reactive ion etching processes were used to study the etching characteristics of (AlxGa1-x)(0.5)In0.5P quaternary compounds with various Al contents (x=0, 0.3, 0.7, 1). By increasing the fluorine-based gas (CHF3 or CF4) into th
    關聯: COMPOUND SEMICONDUCTORS 1999
    顯示於類別:[電機工程研究所] 期刊論文

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