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    題名: Characterization of AlF3 thin films at 193 nm by thermal evaporation
    作者: Lee,CC;Liu,MC;Kaneko,M;Nakahira,K;Takano,Y
    貢獻者: 光電科學與工程學系
    關鍵詞: MICROSTRUCTURAL PROPERTIES;OPTICAL-CONSTANTS;MGF2;ULTRAVIOLET;COATINGS;LITHOGRAPHY;DEPOSITION;FLUORIDE;BAF2;CAF2
    日期: 2005
    上傳時間: 2010-07-07 14:11:18 (UTC+8)
    出版者: 中央大學
    摘要: Aluminum fluoride (AlF3) was deposited by a resistive heating boat. To obtain a low optical loss and high laser-induced damage threshold (LIDT) at 193 nm, the films were investigated under different substrate temperatures, deposition rates, and annealing
    關聯: APPLIED OPTICS
    顯示於類別:[光電科學與工程學系] 期刊論文

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