English  |  正體中文  |  简体中文  |  全文筆數/總筆數 : 78852/78852 (100%)
造訪人次 : 38563720      線上人數 : 514
RC Version 7.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library IR team.
搜尋範圍 查詢小技巧:
  • 您可在西文檢索詞彙前後加上"雙引號",以獲取較精準的檢索結果
  • 若欲以作者姓名搜尋,建議至進階搜尋限定作者欄位,可獲得較完整資料
  • 進階搜尋


    請使用永久網址來引用或連結此文件: http://ir.lib.ncu.edu.tw/handle/987654321/79591


    題名: 矽基熱電元件開發及特性量測;The Research and Measurement of Si-based Thermoelectric Devices
    作者: 吳孟昕;Wu, Meng-Hsin
    貢獻者: 電機工程學系
    關鍵詞: 矽奈米線
    日期: 2018-10-05
    上傳時間: 2019-04-02 15:06:28 (UTC+8)
    出版者: 國立中央大學
    摘要: 能源議題是近年來最重要的議題之一,目前人類最常使用的火力發電及核能發電都會產生無法利用的熱能,若是能夠利用熱電材料將這些熱能轉換成為電能,將能夠更有效的使用這些能源。
    本研究使用輕摻雜之矽晶片,先在未拋光面鍍上鎳,進行矽化鎳反應後,利用一步金屬輔助化學蝕刻製作奈米線,進行P/N-type摻雜後進行封裝,量測範圍從室溫到473K,探討其熱電特性。
    ;The energy issue is one of the most important issues in recent years. At present, the most commonly used thermal power generation and nuclear power generation will generate unutilized heat energy. If it can convert these thermal energy into electrical energy by using thermoelectric materials, it will be able to use these energy more effectively.
    In this study, a light-doped wafer was used. First, nickel was plated on the unpolished surface. After the silicide reaction, the nanowire was fabricated by one-step metal-assisted chemical etching, and the nanowire was doped and packaged. The thermoelectric properties measured was from room temperature to 473K.
    顯示於類別:[電機工程研究所] 博碩士論文

    文件中的檔案:

    檔案 描述 大小格式瀏覽次數
    index.html0KbHTML120檢視/開啟


    在NCUIR中所有的資料項目都受到原著作權保護.

    社群 sharing

    ::: Copyright National Central University. | 國立中央大學圖書館版權所有 | 收藏本站 | 設為首頁 | 最佳瀏覽畫面: 1024*768 | 建站日期:8-24-2009 :::
    DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library IR team Copyright ©   - 隱私權政策聲明