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    題名: Liquid phase deposited SiO2 on GaN
    作者: Wu,HR;Lee,KW;Nian,TB;Chou,DW;Wu,JJH;Wang,YH;Houng,MP;Sze,PW;Su,YK;Chang,SJ;Ho,CH;Chiang,CI;Chern,YT;Juang,FS;Wen,TC;Lee,WI;Chyi,JI
    貢獻者: 電機工程研究所
    關鍵詞: N-TYPE GAN;GALLIUM-ARSENIDE;SILICON DIOXIDE;PERFORMANCE;SIO2-FILMS;MESFETS
    日期: 2003
    上傳時間: 2010-07-06 18:29:38 (UTC+8)
    出版者: 中央大學
    摘要: An efficient and low cost approach to deposit uniform silicon dioxide layers on GaN by liquid phase deposition (LPD) near room temperature are described and discussed. The process is simple. GaN wafers are immersed into a H2SiF6 and H3BO3 solution to form
    關聯: MATERIALS CHEMISTRY AND PHYSICS
    顯示於類別:[電機工程研究所] 期刊論文

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