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[電機工程學系] 期刊論文
2011
SETBIST: An Soft-Error Tolerant Built-In Self-Test Scheme for Random Access Memories
Tseng,TW
;
Li,JF
[電機工程學系] 期刊論文
2011
Memory Built-In Self-Repair Planning Framework for RAMs in SoCs
Hou,CS
;
Li,JF
;
Tseng,TW
[電機工程學系] 期刊論文
2011
A Low-Cost Built-In Redundancy-Analysis Scheme for Word-Oriented RAMs With 2-D Redundancy
Tseng,TW
;
Li,JF
[電機工程學系] 期刊論文
2010
Reliability-Enhancement and Self-Repair Schemes for SRAMs With Static and Dynamic Faults
Li,JF
;
Tseng,TW
;
Hou,CS
[電機工程學系] 期刊論文
2010
ReBISR: A Reconfigurable Built-In Self-Repair Scheme for Random Access Memories in SOCs
Tseng,TW
;
Li,JF
;
Hsu,CC
[電機工程學系] 期刊論文
2010
DABISR: A Defect-Aware Built-In Self-Repair Scheme for Single/Multi-Port RAMs in SoCs
Tseng,TW
;
Huang,YJ
;
Li,JF
[電機工程學系] 期刊論文
2010
A Built-in Method to Repair SoC RAMs in Parallel
Tseng,TW
;
Li,JF
;
Hou,CS
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