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[化學工程與材料工程研究所] 期刊論文
2009
The suppression of tin whisker growth by the coating of tin oxide nano particles and surface treatment
Wu,AT
;
Ding,YC
[化學工程與材料工程研究所] 期刊論文
2009
The Effects of Solid-State Aging on the Intermetallic Compounds of Sn-Ag-Bi-In Solders on Cu Substrates
Wu,AT
;
Chen,MH
;
Siao,CN
[化學工程與材料工程學系 ] 期刊論文
2011
Scratch-resistant zeolite anti-reflective coating on glass for solar applications
Chen,CH
;
Li,SY
;
Chiang,AST
;
Wu,AT
;
Sun,YS
[化學工程與材料工程學系 ] 期刊論文
2011
Preferred orientation relationships with large misfit interfaces between Ni(3)Sn(4) and Ni in reactive wetting of eutectic SnPb on Ni
Suh,JO
;
Tu,KN
;
Wu,AT
;
Tamura,N
[化學工程與材料工程學系 ] 期刊論文
2011
Nucleation and propagation of voids in microbumps for 3 dimensional integrated circuits
Hsu,HH
;
Huang,SY
;
Chang,TC
;
Wu,AT
[化學工程與材料工程學系 ] 期刊論文
2010
In situ observation of stress evolution in pure tin strip under electromigration using synchrotron radiation x-ray
Wu,AT
;
Siao,CN
;
Ku,CS
;
Lee,HY
[化學工程與材料工程研究所] 期刊論文
2009
In Situ Measurements of Thermal and Electrical Effects of Strain in Flip-Chip Silicon Dies Using Synchrotron Radiation X-rays (vol 38, pg 2308, 2009)
Wu,AT
;
Tsai,CY
;
Kao,CL
;
Shih,MK
;
Lai,YS
;
Lee,HY
;
Ku,CS
[化學工程與材料工程研究所] 期刊論文
2009
In Situ Measurements of Thermal and Electrical Effects of Strain in Flip-Chip Silicon Dies Using Synchrotron Radiation X-rays
Wu,AT
;
Tsai,CY
;
Kao,CL
;
Shih,MK
;
Lai,YS
;
Lee,HY
;
Ku,CS
[化學工程與材料工程研究所] 期刊論文
2009
Formation of intermetallic compounds in SnAgBiIn solder systems on Cu substrates
Wu,AT
;
Chen,MH
;
Huang,CH
[化學工程與材料工程研究所] 期刊論文
2004
Electromigration-induced microstructure evolution in tin studied by synchrotron x-ray microdiffraction
Wu,AT
;
Tu,KN
;
Lloyd,JR
;
Tamura,N
;
Valek,BC
;
Kao,CR
[化學工程與材料工程研究所] 期刊論文
2005
Electromigration-induced grain rotation in anisotropic conducting beta tin
Wu,AT
;
Gusak,AM
;
Tu,KN
;
Kao,CR
[材料科學與工程研究所 ] 期刊論文
2010
Effects on Undercooling and Interfacial Reactions with Cu Substrates of Adding Bi and In to Sn-3Ag Solder
Chiang,YY
;
Cheng,R
;
Wu,AT
[化學工程與材料工程研究所] 期刊論文
2009
Determination of Average Failure Time and Microstructural Analysis of Sn-Ag-Bi-In Solder Under Electromigration
Wu,AT
;
Sun,KH
[化學工程與材料工程學系 ] 期刊論文
2011
Controlled positions and kinetic analysis of spontaneous tin whisker growth
Su,CH
;
Chen,H
;
Lee,HY
;
Wu,AT
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