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    日期題名作者
    2021-07-16 基於特徵分析識別晶圓圖刮痕樣態;Through Feature based Analysis to Recognize Wafer Map Scratch Pattern 吳嘉峻; Wu, Chia-Chun
    2021-07-16 無樣態先的二階段辨識模型用於晶圓瑕疵偵測;NFTS: A None-First Two-Stage Model for Wafer Map Defect Classification 張嘉修; Zhang, Jia-Xiu
    2021-07-13 三維接地式四面體網格之矩陣係數驗證與半導體元件模擬;3D grounded cube element and matrix coefficient verification and its applications to semiconductor device simulation 陳彥伯; Chen, Yen-Po
    2021-07-12 二維接地式三角形網格開發及矩陣係數驗證與半導體元件模擬;2D Grounded Triangle Element and Matrix Coefficient Verification and Its Applications to Semiconductor Device Simulation 李之福; Lee, Jhih-Fu
    2021-07-12 三維橋接式四面體網格開發及矩陣係數驗證與半導體元件模擬;3D Bridged Cube Element and Matrix Coefficient Verification and Its Applications to Semiconductor Device Simulation 廖宇聰; Liao, Yu-Tsung
    2021-07-07 基於AI技術之視障人士的路況分析及障礙物辨識與測距 城筱筑; Cheng, Hsiao-Chu
    2021-07-07 基於機器學習之冰機設備運轉參數優化系統 陳易; Chen, Yi
    2021-07-06 基於AI技術之視障人士的行進避障及超商辨識與引導 謝易軒; Hsieh, I-Hsuan
    2021-07-06 基於AI技術之對抗部分遮蔽的即時臉部辨識系統 儲健峰; Chu, Chien-Feng
    2021-07-06 基於AI技術之蔬果辨識計價電子秤 董吉峰; Dong, Ji-Feng

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